计算机工程与科学
計算機工程與科學
계산궤공정여과학
COMPUTER ENGINEERING & SCIENCE
2011年
10期
76-79
,共4页
多核处理器%软错误%可靠性%Scrub
多覈處理器%軟錯誤%可靠性%Scrub
다핵처리기%연착오%가고성%Scrub
集成电路制造工艺的飞速发展,使得集成电路的特征尺寸不断减少和集成度不断提高,造成集成电路对工作环境的影响越来越敏感,发生软错误的几率不断增加,对可靠性造成重要影响.随着微处理器进入了多核时代,丰富的片上资源给软错误加固带来了很好的机遇.本文针对多核处理器中I/O系统软错误,提出了一种基于多核处理器的软件Scrub方法对软错误进行加固.测试结果表明,我们提出的软错误容错方法可以大大提高I/O系统的可靠性.
集成電路製造工藝的飛速髮展,使得集成電路的特徵呎吋不斷減少和集成度不斷提高,造成集成電路對工作環境的影響越來越敏感,髮生軟錯誤的幾率不斷增加,對可靠性造成重要影響.隨著微處理器進入瞭多覈時代,豐富的片上資源給軟錯誤加固帶來瞭很好的機遇.本文針對多覈處理器中I/O繫統軟錯誤,提齣瞭一種基于多覈處理器的軟件Scrub方法對軟錯誤進行加固.測試結果錶明,我們提齣的軟錯誤容錯方法可以大大提高I/O繫統的可靠性.
집성전로제조공예적비속발전,사득집성전로적특정척촌불단감소화집성도불단제고,조성집성전로대공작배경적영향월래월민감,발생연착오적궤솔불단증가,대가고성조성중요영향.수착미처리기진입료다핵시대,봉부적편상자원급연착오가고대래료흔호적궤우.본문침대다핵처리기중I/O계통연착오,제출료일충기우다핵처리기적연건Scrub방법대연착오진행가고.측시결과표명,아문제출적연착오용착방법가이대대제고I/O계통적가고성.
