CAJ | 학술논문

采用x射线光电子能谱(XPS)对铅锡合金表面钝化层的组分与结构进行分析,目的是要确定钝化层中各元素的化学价态和存在形式,并试图明确锡对钝化膜导电能力的影响.结果表明:钝化膜具有分层结构,表层由SnO2,SnO,PbSO4,PbOx(1＜x＜2)和PbOx·Sn1-xO2组成,内层为SnO2,SnO,PbO,PbOx和PbOx·Sn1-xO2.内层钝化膜的导电性优于表层,锡能促进生成电阻远小于PbSO4和PbO的铅的过渡氧化物PbOx(1＜x＜2),从而提高其电导率.但是,内层的物质构成和分布并不均匀,出现了非导电区(极少量)和导电区并存的现象,而外层并没有类似情况发生.钝化膜自外向内含铅量和含锡量均呈上升趋势,含氧量呈下降趋势,锡的增值幅度随母体含锡量的减少而增大,但铅浓度的变化规律与之相反.
채용x사선광전자능보(XPS)대연석합금표면둔화층적조분여결구진행분석,목적시요학정둔화층중각원소적화학개태화존재형식,병시도명학석대둔화막도전능력적영향.결과표명:둔화막구유분층결구,표층유SnO2,SnO,PbSO4,PbOx(1＜x＜2)화PbOx·Sn1-xO2조성,내층위SnO2,SnO,PbO,PbOx화PbOx·Sn1-xO2.내층둔화막적도전성우우표층,석능촉진생성전조원소우PbSO4화PbO적연적과도양화물PbOx(1＜x＜2),종이제고기전도솔.단시,내층적물질구성화분포병불균균,출현료비도전구(겁소량)화도전구병존적현상,이외층병몰유유사정황발생.둔화막자외향내함연량화함석량균정상승추세,함양량정하강추세,석적증치폭도수모체함석량적감소이증대,단연농도적변화규률여지상반.