第四军医大学学报
第四軍醫大學學報
제사군의대학학보
JOURNAL OF THE FOURTH MILITARY MEDICAL UNIVERSITY
2003年
7期
590-593
,共4页
高温%神经元%Klenow法%凋亡
高溫%神經元%Klenow法%凋亡
고온%신경원%Klenow법%조망
目的: 研究热刺激对神经元形态及凋亡的影响, 观察不同温度下神经元活力的变化. 方法: 利用倒置相差显微镜观察高温后神经元的形态学改变. 应用Klenow法对不同高温后神经元进行凋亡检测,应用图像分析仪对检测的结果进行分析. MTT法进行平均吸光度检测. 结果: 高温处理后神经元出现形态学改变. Klenow法检测发现未经高温处理的对照组神经元平均灰度为69.54±2.70,高温处理后平均灰度升高,39℃时达高峰133.40±4.49,而后随着温度升高,平均灰度逐渐降低. MTT法测定显示随着温度升高细胞活力逐渐降低. 结论: 高温处理神经元可诱导其凋亡,39℃时达高峰. 神经元细胞活力随温度升高而降低.
目的: 研究熱刺激對神經元形態及凋亡的影響, 觀察不同溫度下神經元活力的變化. 方法: 利用倒置相差顯微鏡觀察高溫後神經元的形態學改變. 應用Klenow法對不同高溫後神經元進行凋亡檢測,應用圖像分析儀對檢測的結果進行分析. MTT法進行平均吸光度檢測. 結果: 高溫處理後神經元齣現形態學改變. Klenow法檢測髮現未經高溫處理的對照組神經元平均灰度為69.54±2.70,高溫處理後平均灰度升高,39℃時達高峰133.40±4.49,而後隨著溫度升高,平均灰度逐漸降低. MTT法測定顯示隨著溫度升高細胞活力逐漸降低. 結論: 高溫處理神經元可誘導其凋亡,39℃時達高峰. 神經元細胞活力隨溫度升高而降低.
목적: 연구열자격대신경원형태급조망적영향, 관찰불동온도하신경원활력적변화. 방법: 이용도치상차현미경관찰고온후신경원적형태학개변. 응용Klenow법대불동고온후신경원진행조망검측,응용도상분석의대검측적결과진행분석. MTT법진행평균흡광도검측. 결과: 고온처리후신경원출현형태학개변. Klenow법검측발현미경고온처리적대조조신경원평균회도위69.54±2.70,고온처리후평균회도승고,39℃시체고봉133.40±4.49,이후수착온도승고,평균회도축점강저. MTT법측정현시수착온도승고세포활력축점강저. 결론: 고온처리신경원가유도기조망,39℃시체고봉. 신경원세포활력수온도승고이강저.
