微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2008年
2期
36-37
,共2页
孙曦东%MA Yun-song%耿爽%SONG Jin-yang
孫晞東%MA Yun-song%耿爽%SONG Jin-yang
손희동%MA Yun-song%경상%SONG Jin-yang
J750测试系统%测试%串行控制器%波特率
J750測試繫統%測試%串行控製器%波特率
J750측시계통%측시%천행공제기%파특솔
由于Teradyne J750测试系统测试速度快,为节省机时,也顺应测试行业的发展,越来越多的程序开始在Teradyne J750测试平台上开发.下面以82C52芯片为例,介绍了在TeradyneJ750测试系统上测试程序的开发.
由于Teradyne J750測試繫統測試速度快,為節省機時,也順應測試行業的髮展,越來越多的程序開始在Teradyne J750測試平檯上開髮.下麵以82C52芯片為例,介紹瞭在TeradyneJ750測試繫統上測試程序的開髮.
유우Teradyne J750측시계통측시속도쾌,위절성궤시,야순응측시행업적발전,월래월다적정서개시재Teradyne J750측시평태상개발.하면이82C52심편위례,개소료재TeradyneJ750측시계통상측시정서적개발.