半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2009年
3期
279-282,286
,共5页
故障预测%故障预测和健康管理%机内测试%内建可靠性
故障預測%故障預測和健康管理%機內測試%內建可靠性
고장예측%고장예측화건강관리%궤내측시%내건가고성
介绍了IC可靠性对电子设备可靠性的影响及当前IC可靠性的局限性,阐述了故障预测的定义及详细介绍了"浴盆曲线"不同阶段的意义;从另一个角度介绍IC的可靠性,阐述了故障预测在集成电路设计中的价值.论述了故障预测在半导体设计中的应用问题,影响半导体器件寿命的因素.给出了静电损伤、热裁流子、TDDB和NBTI等影响半导体器件寿命的故障预测方案.
介紹瞭IC可靠性對電子設備可靠性的影響及噹前IC可靠性的跼限性,闡述瞭故障預測的定義及詳細介紹瞭"浴盆麯線"不同階段的意義;從另一箇角度介紹IC的可靠性,闡述瞭故障預測在集成電路設計中的價值.論述瞭故障預測在半導體設計中的應用問題,影響半導體器件壽命的因素.給齣瞭靜電損傷、熱裁流子、TDDB和NBTI等影響半導體器件壽命的故障預測方案.
개소료IC가고성대전자설비가고성적영향급당전IC가고성적국한성,천술료고장예측적정의급상세개소료"욕분곡선"불동계단적의의;종령일개각도개소IC적가고성,천술료고장예측재집성전로설계중적개치.논술료고장예측재반도체설계중적응용문제,영향반도체기건수명적인소.급출료정전손상、열재류자、TDDB화NBTI등영향반도체기건수명적고장예측방안.
