半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2011年
8期
646-650
,共5页
沈牧%任永学%王晓燕%程义涛
瀋牧%任永學%王曉燕%程義濤
침목%임영학%왕효연%정의도
半导体激光器%流程图%扫描测试%P-I曲线%V-I曲线
半導體激光器%流程圖%掃描測試%P-I麯線%V-I麯線
반도체격광기%류정도%소묘측시%P-I곡선%V-I곡선
利用SGI40 - 125AAA型程控直流电源、PCI - GPIB卡、电压表、功率计表以及光谱仪等建立高功率半导体激光器测试系统,并在LabVIEW环境下开发了测试软件,通过软件控制直流电源、功率计表等仪器的触发输出、触发输入实现测试设备的同步工作,在保证测试准确性的同时,实现了快速(每个测试点的工作时间约300 ms)的扫描测试,在测试速度上比多个仪器单独测试有了明显提高.可以实现千瓦级连续工作半导体激光器的光功率P、电压V、电光转换效率η、阈值电流、光谱等参数的扫描测试.建立的测试系统准确度高,扫描速度快,测试软件界面操作方便,显示结果直观、全面.
利用SGI40 - 125AAA型程控直流電源、PCI - GPIB卡、電壓錶、功率計錶以及光譜儀等建立高功率半導體激光器測試繫統,併在LabVIEW環境下開髮瞭測試軟件,通過軟件控製直流電源、功率計錶等儀器的觸髮輸齣、觸髮輸入實現測試設備的同步工作,在保證測試準確性的同時,實現瞭快速(每箇測試點的工作時間約300 ms)的掃描測試,在測試速度上比多箇儀器單獨測試有瞭明顯提高.可以實現韆瓦級連續工作半導體激光器的光功率P、電壓V、電光轉換效率η、閾值電流、光譜等參數的掃描測試.建立的測試繫統準確度高,掃描速度快,測試軟件界麵操作方便,顯示結果直觀、全麵.
이용SGI40 - 125AAA형정공직류전원、PCI - GPIB잡、전압표、공솔계표이급광보의등건립고공솔반도체격광기측시계통,병재LabVIEW배경하개발료측시연건,통과연건공제직류전원、공솔계표등의기적촉발수출、촉발수입실현측시설비적동보공작,재보증측시준학성적동시,실현료쾌속(매개측시점적공작시간약300 ms)적소묘측시,재측시속도상비다개의기단독측시유료명현제고.가이실현천와급련속공작반도체격광기적광공솔P、전압V、전광전환효솔η、역치전류、광보등삼수적소묘측시.건립적측시계통준학도고,소묘속도쾌,측시연건계면조작방편,현시결과직관、전면.
