光谱学与光谱分析
光譜學與光譜分析
광보학여광보분석
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS
2010年
10期
2752-2757
,共6页
范春辉%张颖超%张颖%韩雪%Benny Chefetz
範春輝%張穎超%張穎%韓雪%Benny Chefetz
범춘휘%장영초%장영%한설%Benny Chefetz
稻壳灰%生物吸附%Cr(Ⅵ)%吸附机制
稻殼灰%生物吸附%Cr(Ⅵ)%吸附機製
도각회%생물흡부%Cr(Ⅵ)%흡부궤제
以低成本稻壳灰作为吸附剂,使用FTIR,SEM,XPS,XRD,XRF等分析手段,研究稻壳灰对Cr(Ⅵ)的去除机制.FTIR研究表明酰胺Ⅱ带,Si-O-Si,O-Si-O等在Cr(Ⅵ)去除过程中有一定贡献.由SEM图片清晰可见:吸附Cr(Ⅵ)后,稻壳灰表面分布有众多的光亮沉积物.XPS图谱证明:稻壳灰的主要组成元素为C,N,O,P和Si;C元素的存在状态以醛酮类为主,含C官能团与Cr(Ⅵ)发生了配位反应;N兀素以-NH2形态为主,Cr(Ⅵ)可能以静电作用与含N基团结合,并以物理吸附为主;Si的存在以Si-O为主,含Si官能团可能与Cr(Ⅵ)发生了配位反应.XRD分析结果表明:谱图中出现的峰是典型的SiO2特征峰;稻壳厌的结晶度增加,表明稻壳灰与Cr(Ⅵ)形成了具有晶体结构的金属化合物.XRF研究发现,K,Na,Mg和Ca的元素含量在吸附前后有所变化,另有两种新元素出现,这说明吸附过程存在离子交换机制.所有这些皆表明:各种官能团在Cr(Ⅵ)去除过程中的角色各不相同,无机微沉淀机制、氧化还原机制、表面络合机制、离子交换机制等是稻壳灰去除Cr(Ⅵ)的主要途径.这可以为吸附技术的实际应用提供理论支持.
以低成本稻殼灰作為吸附劑,使用FTIR,SEM,XPS,XRD,XRF等分析手段,研究稻殼灰對Cr(Ⅵ)的去除機製.FTIR研究錶明酰胺Ⅱ帶,Si-O-Si,O-Si-O等在Cr(Ⅵ)去除過程中有一定貢獻.由SEM圖片清晰可見:吸附Cr(Ⅵ)後,稻殼灰錶麵分佈有衆多的光亮沉積物.XPS圖譜證明:稻殼灰的主要組成元素為C,N,O,P和Si;C元素的存在狀態以醛酮類為主,含C官能糰與Cr(Ⅵ)髮生瞭配位反應;N兀素以-NH2形態為主,Cr(Ⅵ)可能以靜電作用與含N基糰結閤,併以物理吸附為主;Si的存在以Si-O為主,含Si官能糰可能與Cr(Ⅵ)髮生瞭配位反應.XRD分析結果錶明:譜圖中齣現的峰是典型的SiO2特徵峰;稻殼厭的結晶度增加,錶明稻殼灰與Cr(Ⅵ)形成瞭具有晶體結構的金屬化閤物.XRF研究髮現,K,Na,Mg和Ca的元素含量在吸附前後有所變化,另有兩種新元素齣現,這說明吸附過程存在離子交換機製.所有這些皆錶明:各種官能糰在Cr(Ⅵ)去除過程中的角色各不相同,無機微沉澱機製、氧化還原機製、錶麵絡閤機製、離子交換機製等是稻殼灰去除Cr(Ⅵ)的主要途徑.這可以為吸附技術的實際應用提供理論支持.
이저성본도각회작위흡부제,사용FTIR,SEM,XPS,XRD,XRF등분석수단,연구도각회대Cr(Ⅵ)적거제궤제.FTIR연구표명선알Ⅱ대,Si-O-Si,O-Si-O등재Cr(Ⅵ)거제과정중유일정공헌.유SEM도편청석가견:흡부Cr(Ⅵ)후,도각회표면분포유음다적광량침적물.XPS도보증명:도각회적주요조성원소위C,N,O,P화Si;C원소적존재상태이철동류위주,함C관능단여Cr(Ⅵ)발생료배위반응;N올소이-NH2형태위주,Cr(Ⅵ)가능이정전작용여함N기단결합,병이물리흡부위주;Si적존재이Si-O위주,함Si관능단가능여Cr(Ⅵ)발생료배위반응.XRD분석결과표명:보도중출현적봉시전형적SiO2특정봉;도각염적결정도증가,표명도각회여Cr(Ⅵ)형성료구유정체결구적금속화합물.XRF연구발현,K,Na,Mg화Ca적원소함량재흡부전후유소변화,령유량충신원소출현,저설명흡부과정존재리자교환궤제.소유저사개표명:각충관능단재Cr(Ⅵ)거제과정중적각색각불상동,무궤미침정궤제、양화환원궤제、표면락합궤제、리자교환궤제등시도각회거제Cr(Ⅵ)적주요도경.저가이위흡부기술적실제응용제공이론지지.