电焊机
電銲機
전한궤
ELECTRIC WELDING MACHINE
2008年
9期
13-21,72
,共10页
张亮%薛松柏%禹胜林%韩宗杰%皋利利%卢方焱%盛重
張亮%薛鬆柏%禹勝林%韓宗傑%皋利利%盧方焱%盛重
장량%설송백%우성림%한종걸%고리리%로방염%성중
有限元方法%可靠性%本构方程%寿命预测
有限元方法%可靠性%本構方程%壽命預測
유한원방법%가고성%본구방정%수명예측
有限元方法在微连接焊点可靠性研究中的应用越来越广泛.综述了国内外诸多研究学者借助有限元模拟对四边扁平封装器件(QFP)、片式电阻(CR)、陶瓷球栅阵列器件(CBGA)、芯片尺寸封装(CSP)、陶瓷柱栅阵列(CCGA)以及倒装芯片球栅阵列(FCBGA)等微元器件焊点可靠性的研究,同时对影响模拟结果的诸多因素进行综合分析.随着电子无铅进程的快速进行,焊点可靠性的研究也得到长足的发展,特别是在本枸方程和焊点疲劳寿命预测方程的构建,综合分析本构方程和焊点疲劳寿命预测方程的研究和应用现状.为焊点可靠性的研究提供一定的理论依据.
有限元方法在微連接銲點可靠性研究中的應用越來越廣汎.綜述瞭國內外諸多研究學者藉助有限元模擬對四邊扁平封裝器件(QFP)、片式電阻(CR)、陶瓷毬柵陣列器件(CBGA)、芯片呎吋封裝(CSP)、陶瓷柱柵陣列(CCGA)以及倒裝芯片毬柵陣列(FCBGA)等微元器件銲點可靠性的研究,同時對影響模擬結果的諸多因素進行綜閤分析.隨著電子無鉛進程的快速進行,銲點可靠性的研究也得到長足的髮展,特彆是在本枸方程和銲點疲勞壽命預測方程的構建,綜閤分析本構方程和銲點疲勞壽命預測方程的研究和應用現狀.為銲點可靠性的研究提供一定的理論依據.
유한원방법재미련접한점가고성연구중적응용월래월엄범.종술료국내외제다연구학자차조유한원모의대사변편평봉장기건(QFP)、편식전조(CR)、도자구책진렬기건(CBGA)、심편척촌봉장(CSP)、도자주책진렬(CCGA)이급도장심편구책진렬(FCBGA)등미원기건한점가고성적연구,동시대영향모의결과적제다인소진행종합분석.수착전자무연진정적쾌속진행,한점가고성적연구야득도장족적발전,특별시재본구방정화한점피로수명예측방정적구건,종합분석본구방정화한점피로수명예측방정적연구화응용현상.위한점가고성적연구제공일정적이론의거.
