物理学报
物理學報
물이학보
2008年
8期
5170-5175
,共6页
Ding Wan-Yu%徐军%Lu Wen-Qi%邓新绿%Dong Chuang
Ding Wan-Yu%徐軍%Lu Wen-Qi%鄧新綠%Dong Chuang
Ding Wan-Yu%서군%Lu Wen-Qi%산신록%Dong Chuang
SiNx%磁控溅射%微观结构%硬度
SiNx%磁控濺射%微觀結構%硬度
SiNx%자공천사%미관결구%경도
利用微波电子回旋共振增强磁控反应溅射法在不同基片温度下制备无氢SiNx薄膜.通过傅里叶变换红外光谱、透射电子显微镜、台阶仪、纳米硬度仪等表征技术,研究了基片温度对SiNx薄膜结晶状态、晶粒尺寸、晶体取向等结晶性能以及薄膜的生长速率、硬度等机械性能的影响,并探讨了薄膜结晶性能与机械性能之间的关系.研究结果表明,在基片温度低于300℃时制备的SiNx薄膜以非晶状态存在,硬度值仅为18 GPa左右;基片温度在320-620℃范围内,SiNx薄膜中出现纳米晶粒,且晶粒尺寸随沉积温度的增加而增加,在沉积温度为620℃时达到最大,为20±1.5 nm;当沉积温度为700℃时,SiN<,x>薄膜的晶粒尺寸突然减小,但由于此时晶粒密度为最大,因此薄膜硬度达到最大值(36.7 GPa).
利用微波電子迴鏇共振增彊磁控反應濺射法在不同基片溫度下製備無氫SiNx薄膜.通過傅裏葉變換紅外光譜、透射電子顯微鏡、檯階儀、納米硬度儀等錶徵技術,研究瞭基片溫度對SiNx薄膜結晶狀態、晶粒呎吋、晶體取嚮等結晶性能以及薄膜的生長速率、硬度等機械性能的影響,併探討瞭薄膜結晶性能與機械性能之間的關繫.研究結果錶明,在基片溫度低于300℃時製備的SiNx薄膜以非晶狀態存在,硬度值僅為18 GPa左右;基片溫度在320-620℃範圍內,SiNx薄膜中齣現納米晶粒,且晶粒呎吋隨沉積溫度的增加而增加,在沉積溫度為620℃時達到最大,為20±1.5 nm;噹沉積溫度為700℃時,SiN<,x>薄膜的晶粒呎吋突然減小,但由于此時晶粒密度為最大,因此薄膜硬度達到最大值(36.7 GPa).
이용미파전자회선공진증강자공반응천사법재불동기편온도하제비무경SiNx박막.통과부리협변환홍외광보、투사전자현미경、태계의、납미경도의등표정기술,연구료기편온도대SiNx박막결정상태、정립척촌、정체취향등결정성능이급박막적생장속솔、경도등궤계성능적영향,병탐토료박막결정성능여궤계성능지간적관계.연구결과표명,재기편온도저우300℃시제비적SiNx박막이비정상태존재,경도치부위18 GPa좌우;기편온도재320-620℃범위내,SiNx박막중출현납미정립,차정립척촌수침적온도적증가이증가,재침적온도위620℃시체도최대,위20±1.5 nm;당침적온도위700℃시,SiN<,x>박막적정립척촌돌연감소,단유우차시정립밀도위최대,인차박막경도체도최대치(36.7 GPa).