微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2007年
5期
651-655
,共5页
测试数据压缩%哈夫曼编码%FDR编码%PTIDR编码
測試數據壓縮%哈伕曼編碼%FDR編碼%PTIDR編碼
측시수거압축%합부만편마%FDR편마%PTIDR편마
提出了一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码.该编码方法综合利用哈夫曼编码和前缀编码.理论分析和实验结果表明,在测试集中,0的概率p满足p≥0.7610时,能取得比FDR编码更高的压缩率,从而降低芯片测试成本.该编码方法的解码器也较FDR编码的解码器简单、易实现,且能有效节省硬件开销,并进一步节省芯片面积,从而降低芯片制造成本.
提齣瞭一種有效的新型測試數據壓縮編碼--PTIDR編碼.該編碼方法綜閤利用哈伕曼編碼和前綴編碼.理論分析和實驗結果錶明,在測試集中,0的概率p滿足p≥0.7610時,能取得比FDR編碼更高的壓縮率,從而降低芯片測試成本.該編碼方法的解碼器也較FDR編碼的解碼器簡單、易實現,且能有效節省硬件開銷,併進一步節省芯片麵積,從而降低芯片製造成本.
제출료일충유효적신형측시수거압축편마--PTIDR편마.해편마방법종합이용합부만편마화전철편마.이론분석화실험결과표명,재측시집중,0적개솔p만족p≥0.7610시,능취득비FDR편마경고적압축솔,종이강저심편측시성본.해편마방법적해마기야교FDR편마적해마기간단、역실현,차능유효절성경건개소,병진일보절성심편면적,종이강저심편제조성본.
