同济大学学报(自然科学版)
同濟大學學報(自然科學版)
동제대학학보(자연과학판)
JOURNAL OF TONGJI UNIVERSITY
2002年
10期
1204-1208
,共5页
何蓉晖%李华伟%李晓维%宫云战
何蓉暉%李華偉%李曉維%宮雲戰
하용휘%리화위%리효유%궁운전
存储器内建自测试%故障模型%march算法%可测性设计
存儲器內建自測試%故障模型%march算法%可測性設計
존저기내건자측시%고장모형%march산법%가측성설계
存储器内建自测试(memory built-in self-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法.在一款通用CPU芯片的可测性设计(design-for-testability,DFT)中,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试.5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作,测试结果由扫描链输出,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小.所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到100%的故障覆盖率.
存儲器內建自測試(memory built-in self-test,MBIST)是一種有效的測試嵌入式存儲器的方法.在一款通用CPU芯片的可測性設計(design-for-testability,DFT)中,MBIST作為cache和TLB的存儲器測試解決方案被採用,以簡化對佈跼分散、大小不同的雙耑口SRAM的測試.5箇獨立的BIST控製器在同一外部信號BistMode的控製下併行工作,測試結果由掃描鏈輸齣,使得測試時間和芯片引腳開銷都降到最小.所採用的march 13n算法確保瞭對固定型故障、跳變故障、地阯譯碼故障和讀寫電路的開路故障均達到100%的故障覆蓋率.
존저기내건자측시(memory built-in self-test,MBIST)시일충유효적측시감입식존저기적방법.재일관통용CPU심편적가측성설계(design-for-testability,DFT)중,MBIST작위cache화TLB적존저기측시해결방안피채용,이간화대포국분산、대소불동적쌍단구SRAM적측시.5개독립적BIST공제기재동일외부신호BistMode적공제하병행공작,측시결과유소묘련수출,사득측시시간화심편인각개소도강도최소.소채용적march 13n산법학보료대고정형고장、도변고장、지지역마고장화독사전로적개로고장균체도100%적고장복개솔.
