材料导报
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재료도보
MATERIALS REVIEW
2002年
5期
39-42
,共4页
施长年%陈志春%薛兴涛%吕德水%林贤福
施長年%陳誌春%薛興濤%呂德水%林賢福
시장년%진지춘%설흥도%려덕수%림현복
纳米二氧化钛%表面分析%表面组成%微结构
納米二氧化鈦%錶麵分析%錶麵組成%微結構
납미이양화태%표면분석%표면조성%미결구
介绍了纳米TiO2表面组成、微结构分析技术近年来的进展.光电子能谱技术包括X光电子能谱(XPS)和俄歇光电子能谱(AES):光谱分析技术包括红外光谱(IR)和Raman光谱;显微分析技术中有扫描隧道显微镜(STM),原子力显微镜(AFM)及扫描和透射电子显微镜(SEM、TEM);X射线分析技术主要是X射线衍射(XRD).
介紹瞭納米TiO2錶麵組成、微結構分析技術近年來的進展.光電子能譜技術包括X光電子能譜(XPS)和俄歇光電子能譜(AES):光譜分析技術包括紅外光譜(IR)和Raman光譜;顯微分析技術中有掃描隧道顯微鏡(STM),原子力顯微鏡(AFM)及掃描和透射電子顯微鏡(SEM、TEM);X射線分析技術主要是X射線衍射(XRD).
개소료납미TiO2표면조성、미결구분석기술근년래적진전.광전자능보기술포괄X광전자능보(XPS)화아헐광전자능보(AES):광보분석기술포괄홍외광보(IR)화Raman광보;현미분석기술중유소묘수도현미경(STM),원자력현미경(AFM)급소묘화투사전자현미경(SEM、TEM);X사선분석기술주요시X사선연사(XRD).
