化工新型材料
化工新型材料
화공신형재료
NEW CHEMICAL MATERIALS
2011年
3期
100-102
,共3页
杨茜%邱克辉%赵昆%张佩聪%李伟
楊茜%邱剋輝%趙昆%張珮聰%李偉
양천%구극휘%조곤%장패총%리위
溶胶法YAG:Ce3+荧光粉%SiO2膜%包覆%热劣化
溶膠法YAG:Ce3+熒光粉%SiO2膜%包覆%熱劣化
용효법YAG:Ce3+형광분%SiO2막%포복%열열화
选用热稳定性好、无色透明的SiO2为包覆物,采用溶胶法,以正硅酸乙酯(TEOS)为硅源,对YAG:Ce3+荧光粉的表面进行SiO2膜的包覆研究,以解决LED荧光粉在使用过程中突出的热劣化问题.采用X射线衍射(XRD),扫描电子显微镜(SEM),透射电子显微镜(TEM)和荧光光谱(FS)等对包膜前后的YAG:Ce3+荧光粉的晶体结构、表面形貌、发光性能等进行表征和分析.结果表明,YAG:Ce3+荧光粉表面上包覆了一层均匀且致密的氧化硅膜层,且对包膜后的YAG:Ce3+荧光粉的发光性能基本没有影响,包覆效果较好.
選用熱穩定性好、無色透明的SiO2為包覆物,採用溶膠法,以正硅痠乙酯(TEOS)為硅源,對YAG:Ce3+熒光粉的錶麵進行SiO2膜的包覆研究,以解決LED熒光粉在使用過程中突齣的熱劣化問題.採用X射線衍射(XRD),掃描電子顯微鏡(SEM),透射電子顯微鏡(TEM)和熒光光譜(FS)等對包膜前後的YAG:Ce3+熒光粉的晶體結構、錶麵形貌、髮光性能等進行錶徵和分析.結果錶明,YAG:Ce3+熒光粉錶麵上包覆瞭一層均勻且緻密的氧化硅膜層,且對包膜後的YAG:Ce3+熒光粉的髮光性能基本沒有影響,包覆效果較好.
선용열은정성호、무색투명적SiO2위포복물,채용용효법,이정규산을지(TEOS)위규원,대YAG:Ce3+형광분적표면진행SiO2막적포복연구,이해결LED형광분재사용과정중돌출적열열화문제.채용X사선연사(XRD),소묘전자현미경(SEM),투사전자현미경(TEM)화형광광보(FS)등대포막전후적YAG:Ce3+형광분적정체결구、표면형모、발광성능등진행표정화분석.결과표명,YAG:Ce3+형광분표면상포복료일층균균차치밀적양화규막층,차대포막후적YAG:Ce3+형광분적발광성능기본몰유영향,포복효과교호.
