电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2005年
z1期
189-192
,共4页
电子元器件%可靠性试验%集成电路测试%试验技术
電子元器件%可靠性試驗%集成電路測試%試驗技術
전자원기건%가고성시험%집성전로측시%시험기술
跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等.
跟蹤研究瞭近年來國外在電子元器件可靠性試驗方麵的髮展現狀與趨勢,主要包括集成電路新的試驗方法;大規模集成電路測試方麵存在的問題和未來的髮展方嚮;裸芯片可靠性試驗技術的髮展;MEMS新技術的可靠性髮展現狀等.
근종연구료근년래국외재전자원기건가고성시험방면적발전현상여추세,주요포괄집성전로신적시험방법;대규모집성전로측시방면존재적문제화미래적발전방향;라심편가고성시험기술적발전;MEMS신기술적가고성발전현상등.
