半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2006年
2期
122-126
,共5页
郭春生%谢雪松%马卫东%李志国%程尧海
郭春生%謝雪鬆%馬衛東%李誌國%程堯海
곽춘생%사설송%마위동%리지국%정요해
激活能%加速寿命试验%快速评价
激活能%加速壽命試驗%快速評價
격활능%가속수명시험%쾌속평개
通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价半导体器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型.并对硅pnp三极管3CG120进行额定功率下,170～345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hFE与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能.
通過對序進應力加速壽命試驗的研究,提齣瞭一種快速評價半導體器件失效激活能的方法,建立瞭計算失效激活能的理論模型.併對硅pnp三極管3CG120進行額定功率下,170～345℃範圍內的序進應力加速壽命試驗,快速提取器件失效敏感參數hFE與所施加應力的關繫,根據模型對器件退化過程中的失效機理進行研究、計算,從而確定其對應的失效激活能.
통과대서진응력가속수명시험적연구,제출료일충쾌속평개반도체기건실효격활능적방법,건립료계산실효격활능적이론모형.병대규pnp삼겁관3CG120진행액정공솔하,170～345℃범위내적서진응력가속수명시험,쾌속제취기건실효민감삼수hFE여소시가응력적관계,근거모형대기건퇴화과정중적실효궤리진행연구、계산,종이학정기대응적실효격활능.
