平晶谱仪谱线波长的直接标定
평정보의보선파장적직접표정
New Planar Crystal X-ray Spectrometer with Independent Wavelength Calibration Ability
  • 万方数据
    中国激光 중국격광
    CHINESE JOURNAL OF LASERS
    2003年 2期 167-170 ,共4页

    刘智%李儒新%贾天卿%邓蕴沛%范品忠%曾志男%徐至展

    류지%리유신%가천경%산온패%범품충%증지남%서지전

    光学技术与仪器%平晶谱仪%辅助光阑%X射线光谱学%激光等离子体 光學技術與儀器%平晶譜儀%輔助光闌%X射線光譜學%激光等離子體
    광학기술여의기%평정보의%보조광란%X사선광보학%격광등리자체
    提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长.
    제출일충간편적신방법용이실현X사선평정보의보선파장적직접표정,지수재보의정체표면가상일개특제적보조광란,즉가재불지광원위치화몰유임하삼고보선적정황하정학표정보선적파장.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문