现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2011年
22期
182-184
,共3页
杨跃胜%武岳山%熊立志%颜元
楊躍勝%武嶽山%熊立誌%顏元
양약성%무악산%웅립지%안원
灵敏度%RFID%UHF%标签芯片%IC
靈敏度%RFID%UHF%標籤芯片%IC
령민도%RFID%UHF%표첨심편%IC
提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法.该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性,利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数,然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗,进而计算标签芯片的灵敏度.利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,并将测试结果与datasheet进行对照,分析误差产生的原因,最终证明此方法的准确性.该测试方法采用常规仪器对800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,有重要实际意义.
提齣一種測試UHF頻段無源RFID標籤芯片靈敏度的方法.該方法依據矢量網絡分析儀和標籤測試儀接口特性阻抗相同的特性,利用矢量網絡分析儀測試標籤芯片的反射繫數,然後通過標籤測試儀測試芯片和儀器接口的匹配損耗,進而計算標籤芯片的靈敏度.利用該方法對NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000 MHz頻段內靈敏度進行測試,併將測試結果與datasheet進行對照,分析誤差產生的原因,最終證明此方法的準確性.該測試方法採用常規儀器對800～1 000 MHz頻段內靈敏度進行測試,有重要實際意義.
제출일충측시UHF빈단무원RFID표첨심편령민도적방법.해방법의거시량망락분석의화표첨측시의접구특성조항상동적특성,이용시량망락분석의측시표첨심편적반사계수,연후통과표첨측시의측시심편화의기접구적필배손모,진이계산표첨심편적령민도.이용해방법대NXP_G2XM심편화Impinj_Monza3심편재800～1 000 MHz빈단내령민도진행측시,병장측시결과여datasheet진행대조,분석오차산생적원인,최종증명차방법적준학성.해측시방법채용상규의기대800～1 000 MHz빈단내령민도진행측시,유중요실제의의.
