磁性材料及器件
磁性材料及器件
자성재료급기건
JOURNAL OF MAGNETIC MATERIALS AND DEVICES
2011年
2期
43-45,52
,共4页
周卓作%杨晓非%李震%董凯锋
週卓作%楊曉非%李震%董凱鋒
주탁작%양효비%리진%동개봉
反常霍尔效应%磁滞回线%薄膜%测量系统
反常霍爾效應%磁滯迴線%薄膜%測量繫統
반상곽이효응%자체회선%박막%측량계통
随着制备工艺和要求的提高,磁性薄膜样品的厚度越来越薄,采用传统的测量方法难以准确测量其磁滞回线.本文探讨反常霍尔效应产生原理,提出了一种新的磁滞回线测量方法,以反常霍尔效应所产生的反常霍尔电压与薄膜样品的磁化强度成正比为测量原理,采用四探针测量方式,在薄膜样品表面水平通以恒定电流后,测量其垂直方向的反常霍尔电压,从而最终绘制样品的磁滞回线.大量实验表明,该测量方法稳定可靠,精度较高,符合测量要求.
隨著製備工藝和要求的提高,磁性薄膜樣品的厚度越來越薄,採用傳統的測量方法難以準確測量其磁滯迴線.本文探討反常霍爾效應產生原理,提齣瞭一種新的磁滯迴線測量方法,以反常霍爾效應所產生的反常霍爾電壓與薄膜樣品的磁化彊度成正比為測量原理,採用四探針測量方式,在薄膜樣品錶麵水平通以恆定電流後,測量其垂直方嚮的反常霍爾電壓,從而最終繪製樣品的磁滯迴線.大量實驗錶明,該測量方法穩定可靠,精度較高,符閤測量要求.
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