CAJ | 학술논문

随着半导体制造工艺水平和电路集成度的不断提高,加之电磁环境日趋复杂、多变,使得应用于电子系统的传统电磁防护和抗扰方式的不足正日渐突出,导致典型现场可编程逻辑门阵列(FPGA)芯片的电磁抗扰度逐渐下降.以广泛应用的FPGA为研究对象,针对典型近场危害源静电放电(ESD)的防护问题,利用试验方法模拟人ESD注入FPGA芯片对其内部电路造成损伤的过程,建它FPGA受ESD损伤的行为级故障模型,结果表明,电子系统与生物系统受损过程具有某些相似的规律.进而基于电磁仿生学的思想,设计了具有冗余机制和结构自组织功能的虚拟细胞模型,利用遗传算法实现故障自修复的功能.最后利用马尔可夫模型分析其稳态可用度,证明在随机ESD事件频繁发生并导致电路损伤时,此模型仍能保持较高的可用度和安全性.
수착반도체제조공예수평화전로집성도적불단제고,가지전자배경일추복잡、다변,사득응용우전자계통적전통전자방호화항우방식적불족정일점돌출,도치전형현장가편정라집문진렬(FPGA)심편적전자항우도축점하강.이엄범응용적FPGA위연구대상,침대전형근장위해원정전방전(ESD)적방호문제,이용시험방법모의인ESD주입FPGA심편대기내부전로조성손상적과정,건타FPGA수ESD손상적행위급고장모형,결과표명,전자계통여생물계통수손과정구유모사상사적규률.진이기우전자방생학적사상,설계료구유용여궤제화결구자조직공능적허의세포모형,이용유전산법실현고장자수복적공능.최후이용마이가부모형분석기은태가용도,증명재수궤ESD사건빈번발생병도치전로손상시,차모형잉능보지교고적가용도화안전성.