用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数
용표면자광극이원리측량박막재료적자성삼수
Measurement of film's magnetic parameters based on the principle of surface magneto-optic Kerr effect
  • 万方数据
    大学物理 대학물리
    COLLEGE PHYSICS
    2009年 9期 36-38,41 ,共4页

    祁建霞

    기건하

    表面磁光克尔效应%磁滞回线%克尔旋转角 錶麵磁光剋爾效應%磁滯迴線%剋爾鏇轉角
    표면자광극이효응%자체회선%극이선전각
    以表面磁光克尔原理为机理,测量薄膜材料的磁性参数,实验上求得了饱和状态下坡莫合金的克尔偏转角,并测出了其磁滞回线.
    이표면자광극이원리위궤리,측량박막재료적자성삼수,실험상구득료포화상태하파막합금적극이편전각,병측출료기자체회선.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문