利用发射光谱测定高纯二硫化钼中的硅
이용발사광보측정고순이류화목중적규
DETERMINATION OF SILICON IN PURE MOLYBDENUM DISULFIDE BY EMISSION SPECTROSCOPY
  • 万方数据
    中国钼业 중국목업
    CHINA MOLYBDENUM INDUSTRY
    2002年 4期 38-39,43 ,共3页

    赵昱%李广济

    조욱%리엄제

    硅%高纯二硫化钼%发射光谱 硅%高純二硫化鉬%髮射光譜
    규%고순이류화목%발사광보
    用碱熔融法浸出二硫化钼中的微量硅,采用发射光谱技术进行测定,方法简便快速.准确度和精密度可满足高纯二硫化钼产品中微量硅的测定要求.
    용감용융법침출이류화목중적미량규,채용발사광보기술진행측정,방법간편쾌속.준학도화정밀도가만족고순이류화목산품중미량규적측정요구.
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