电子测试
電子測試
전자측시
ELECTRONIC TEST
2007年
2期
81-86
,共6页
JTAG%寄存器%指令
JTAG%寄存器%指令
JTAG%기존기%지령
针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时间,不能检测IC引脚内部信号的原因.本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令.
針對大規模集成電路中利用傳統的探針測試方法浪費時間,不能檢測IC引腳內部信號的原因.本文繫統地論述瞭JTAG如何來解決上述問題的的方法和手段,以及JTAG的指令.
침대대규모집성전로중이용전통적탐침측시방법낭비시간,불능검측IC인각내부신호적원인.본문계통지논술료JTAG여하래해결상술문제적적방법화수단,이급JTAG적지령.
