量子电子学报
量子電子學報
양자전자학보
CHINESE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
2008年
5期
610-614
,共5页
遥感%反降晰%孔径函数%线列推扫
遙感%反降晰%孔徑函數%線列推掃
요감%반강석%공경함수%선렬추소
为了降低细分采样累加方式对线列推扫成像清晰度的影响,利用孔径函数的变换,提出了相应的反降晰方法,实现了同一个位置上的像元累加,使得推扫方向上的孔径函数和线列方向等同,消除了累加过程中像元位移的影响.在细分采样累加倍数为4的情况下,Nyquist频率处的传递函数值提高7%.通过对反降晰算法的仿真采样验证,结果表明本算法完全可以达到预定要求,算法简单,只需少量加法器,在目前的成像仪电路中稍微修改可编程芯片即可投入工程应用.
為瞭降低細分採樣纍加方式對線列推掃成像清晰度的影響,利用孔徑函數的變換,提齣瞭相應的反降晰方法,實現瞭同一箇位置上的像元纍加,使得推掃方嚮上的孔徑函數和線列方嚮等同,消除瞭纍加過程中像元位移的影響.在細分採樣纍加倍數為4的情況下,Nyquist頻率處的傳遞函數值提高7%.通過對反降晰算法的倣真採樣驗證,結果錶明本算法完全可以達到預定要求,算法簡單,隻需少量加法器,在目前的成像儀電路中稍微脩改可編程芯片即可投入工程應用.
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