微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2008年
4期
15-16
,共2页
微处理器核%内建自测试%扫描
微處理器覈%內建自測試%掃描
미처리기핵%내건자측시%소묘
介绍了SOC中微处理器核的几种测试方法(并行测试法,串行测试法,测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法)和SOC微处理器核的调试支持,并着重介绍了其中测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法两种方法的具体实现.
介紹瞭SOC中微處理器覈的幾種測試方法(併行測試法,串行測試法,測試接口控製器(TIC)法和內建自測試法)和SOC微處理器覈的調試支持,併著重介紹瞭其中測試接口控製器(TIC)法和內建自測試法兩種方法的具體實現.
개소료SOC중미처리기핵적궤충측시방법(병행측시법,천행측시법,측시접구공제기(TIC)법화내건자측시법)화SOC미처리기핵적조시지지,병착중개소료기중측시접구공제기(TIC)법화내건자측시법량충방법적구체실현.
