物理与工程
物理與工程
물리여공정
PHYSICS AND ENGINEERING
2007年
1期
26-30
,共5页
赵伟%侯清润%陈宜保%何元金
趙偉%侯清潤%陳宜保%何元金
조위%후청윤%진의보%하원금
半导体硅%Seebeck系数%电阻率
半導體硅%Seebeck繫數%電阻率
반도체규%Seebeck계수%전조솔
本文介绍了半导体硅的Seebeck系数和电阻率的测量,与Hall系数和电阻率测量实验相对应,从另一个方面了解半导体导电性能的一些特征.由Seebeck系数的正负号确定载流子的类型是P型还是N型.半导体内有两种导电机制:杂质导电和本征导电.在杂质导电区,可以确定晶格散射因子;在本征导电区,可以确定硅的禁带宽度.
本文介紹瞭半導體硅的Seebeck繫數和電阻率的測量,與Hall繫數和電阻率測量實驗相對應,從另一箇方麵瞭解半導體導電性能的一些特徵.由Seebeck繫數的正負號確定載流子的類型是P型還是N型.半導體內有兩種導電機製:雜質導電和本徵導電.在雜質導電區,可以確定晶格散射因子;在本徵導電區,可以確定硅的禁帶寬度.
본문개소료반도체규적Seebeck계수화전조솔적측량,여Hall계수화전조솔측량실험상대응,종령일개방면료해반도체도전성능적일사특정.유Seebeck계수적정부호학정재류자적류형시P형환시N형.반도체내유량충도전궤제:잡질도전화본정도전.재잡질도전구,가이학정정격산사인자;재본정도전구,가이학정규적금대관도.
