稀有金属
稀有金屬
희유금속
CHINESE JOURNAL OF RARE METALS
2009年
5期
713-717
,共5页
颜涛%姚淑华%刘宏%王继扬%左致远%夏宗仁
顏濤%姚淑華%劉宏%王繼颺%左緻遠%夏宗仁
안도%요숙화%류굉%왕계양%좌치원%하종인
钽酸锂%还原%电导率%压电性能%介电性能
鐽痠鋰%還原%電導率%壓電性能%介電性能
단산리%환원%전도솔%압전성능%개전성능
以Y36°钽酸锂(LiTaO3,LT)晶片为研究对象,通过对同成分LT晶片(CLT)和深度还原黑色u'晶片(BLT)的比较研究,探讨了表面还原处理对钽酸锂晶片电学性能的影响.X射线衍射研究显示,还原处理对晶体结构没有明显影响.BLT的电导率比CLT明显高4个数量级,达到7.7×10-12 Ω-1·cm-1,其压电常数d33、居里温度和介电常数与CLT相差不大,介电损耗有所提高.研究结果表明,还原处理不改变晶体结构,但能提高晶片表面的电导率,从而改善和消除晶片在器件制备过程中因热释电效应引起的放电现象.
以Y36°鐽痠鋰(LiTaO3,LT)晶片為研究對象,通過對同成分LT晶片(CLT)和深度還原黑色u'晶片(BLT)的比較研究,探討瞭錶麵還原處理對鐽痠鋰晶片電學性能的影響.X射線衍射研究顯示,還原處理對晶體結構沒有明顯影響.BLT的電導率比CLT明顯高4箇數量級,達到7.7×10-12 Ω-1·cm-1,其壓電常數d33、居裏溫度和介電常數與CLT相差不大,介電損耗有所提高.研究結果錶明,還原處理不改變晶體結構,但能提高晶片錶麵的電導率,從而改善和消除晶片在器件製備過程中因熱釋電效應引起的放電現象.
이Y36°단산리(LiTaO3,LT)정편위연구대상,통과대동성분LT정편(CLT)화심도환원흑색u'정편(BLT)적비교연구,탐토료표면환원처리대단산리정편전학성능적영향.X사선연사연구현시,환원처리대정체결구몰유명현영향.BLT적전도솔비CLT명현고4개수량급,체도7.7×10-12 Ω-1·cm-1,기압전상수d33、거리온도화개전상수여CLT상차불대,개전손모유소제고.연구결과표명,환원처리불개변정체결구,단능제고정편표면적전도솔,종이개선화소제정편재기건제비과정중인열석전효응인기적방전현상.
