半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2009年
10期
986-990
,共5页
大功率LED%激活能%失效机理%加速寿命
大功率LED%激活能%失效機理%加速壽命
대공솔LED%격활능%실효궤리%가속수명
采用国家标准(GB1772)规定的电子元器件加速寿命试验方法,选择了工作环境温度作为加速应力,设计了四个应力等级的大功率LED加速寿命试验方案并进行试验.试验结果为每个应力等级下的失效模式有2～3种,不同应力级别确定的激活能有一定的差异.通过对金丝引线球焊处开裂、金属化层失效等主要失效机理的产生原因以及温度、电流密度之间关系分析,认为基于Arrhenius模型进行大功率LED加速寿命试验存在不足和缺陷,不能准确地预测稳态温度下的LED寿命,应当对Arrhenius模型进行修正.
採用國傢標準(GB1772)規定的電子元器件加速壽命試驗方法,選擇瞭工作環境溫度作為加速應力,設計瞭四箇應力等級的大功率LED加速壽命試驗方案併進行試驗.試驗結果為每箇應力等級下的失效模式有2～3種,不同應力級彆確定的激活能有一定的差異.通過對金絲引線毬銲處開裂、金屬化層失效等主要失效機理的產生原因以及溫度、電流密度之間關繫分析,認為基于Arrhenius模型進行大功率LED加速壽命試驗存在不足和缺陷,不能準確地預測穩態溫度下的LED壽命,應噹對Arrhenius模型進行脩正.
채용국가표준(GB1772)규정적전자원기건가속수명시험방법,선택료공작배경온도작위가속응력,설계료사개응력등급적대공솔LED가속수명시험방안병진행시험.시험결과위매개응력등급하적실효모식유2～3충,불동응력급별학정적격활능유일정적차이.통과대금사인선구한처개렬、금속화층실효등주요실효궤리적산생원인이급온도、전류밀도지간관계분석,인위기우Arrhenius모형진행대공솔LED가속수명시험존재불족화결함,불능준학지예측은태온도하적LED수명,응당대Arrhenius모형진행수정.
