微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2011年
1期
111-115
,共5页
罗俊%秦国林%李晓红%邓永芳%邢宗锋
囉俊%秦國林%李曉紅%鄧永芳%邢宗鋒
라준%진국림%리효홍%산영방%형종봉
混合集成电路%可靠性%失效模式%失效机理
混閤集成電路%可靠性%失效模式%失效機理
혼합집성전로%가고성%실효모식%실효궤리
总结了混合集成电路的主要失效模式,在此基础上,主要从混合集成电路的设计和工艺两方面分析了其产生的原因,通过设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施,达到提高混合集成电路可靠性的目的.
總結瞭混閤集成電路的主要失效模式,在此基礎上,主要從混閤集成電路的設計和工藝兩方麵分析瞭其產生的原因,通過設計、工藝、原材料和元器件等方麵採取對策和措施,達到提高混閤集成電路可靠性的目的.
총결료혼합집성전로적주요실효모식,재차기출상,주요종혼합집성전로적설계화공예량방면분석료기산생적원인,통과설계、공예、원재료화원기건등방면채취대책화조시,체도제고혼합집성전로가고성적목적.
