微纳米CMOS VLSI电路可靠性仿真与设计
미납미CMOS VLSI전로가고성방진여설계
Micro-Nanometer CMOS VLSI Circuit Reliability Modeling,Simulation and Design
  • 万方数据
    微电子学 미전자학
    MICROELECTRONICS
    2012年 2期 255-260 ,共6页

    罗俊%郝跃%秦国林%谭开洲%王健安%胡刚毅%许斌%刘凡%黄晓宗%唐昭焕%刘勇

    라준%학약%진국림%담개주%왕건안%호강의%허빈%류범%황효종%당소환%류용

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    介绍了CMOS VLSI的可靠性建模和仿真技术的发展历史、相应的仿真工具、失效机理等效电路和算法,重点总结了当前最新的CMOS超大规模集成电路可靠性建模仿真技术,为促进我国集成电路可靠性设计水平起到积极的作用.
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