半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2003年
4期
270-273
,共4页
邓广安%张运华%蔡志岗%江绍基
鄧廣安%張運華%蔡誌崗%江紹基
산엄안%장운화%채지강%강소기
衍射光栅%干涉%CCD%折射率%热光系数
衍射光柵%榦涉%CCD%摺射率%熱光繫數
연사광책%간섭%CCD%절사솔%열광계수
介绍了一种基于衍射光栅干涉的透明材料折射率测量方法.讨论了测量的基本原理、对CCD获取数据的处理方法和样品的测量结果.这种方法使用的仪器少,操作简单,运用CCD作为观测分析的工具,测量精度能够达到10-3 量级,对测量方法进行适当的扩展,还能够用于测量透明材料的其他与折射率相关的参数.对有机聚合物热光系数的测量,理论精度能够达到10-5/℃量级.
介紹瞭一種基于衍射光柵榦涉的透明材料摺射率測量方法.討論瞭測量的基本原理、對CCD穫取數據的處理方法和樣品的測量結果.這種方法使用的儀器少,操作簡單,運用CCD作為觀測分析的工具,測量精度能夠達到10-3 量級,對測量方法進行適噹的擴展,還能夠用于測量透明材料的其他與摺射率相關的參數.對有機聚閤物熱光繫數的測量,理論精度能夠達到10-5/℃量級.
개소료일충기우연사광책간섭적투명재료절사솔측량방법.토론료측량적기본원리、대CCD획취수거적처리방법화양품적측량결과.저충방법사용적의기소,조작간단,운용CCD작위관측분석적공구,측량정도능구체도10-3 량급,대측량방법진행괄당적확전,환능구용우측량투명재료적기타여절사솔상관적삼수.대유궤취합물열광계수적측량,이론정도능구체도10-5/℃량급.
