首都师范大学学报（自然科学版）
首都師範大學學報（自然科學版）
수도사범대학학보（자연과학판）
JOURNAL OF CAPITAL NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION)
2007年
5期
22-25,29
,共5页
遗传算法%测试生成%故障模拟.
遺傳算法%測試生成%故障模擬.
유전산법%측시생성%고장모의.
本文提出了一种基于遗传算法的逻辑电路测试生成算法,利用遗传算法的全局寻优特点进行集成电路的测试生成,并与确定性算法进行了比较,所得到的实验结果表明,遗传算法可以在比较小的测试矢量集下得到比较高的故障覆盖率,是一个有效的测试生产算法.
本文提齣瞭一種基于遺傳算法的邏輯電路測試生成算法,利用遺傳算法的全跼尋優特點進行集成電路的測試生成,併與確定性算法進行瞭比較,所得到的實驗結果錶明,遺傳算法可以在比較小的測試矢量集下得到比較高的故障覆蓋率,是一箇有效的測試生產算法.
본문제출료일충기우유전산법적라집전로측시생성산법,이용유전산법적전국심우특점진행집성전로적측시생성,병여학정성산법진행료비교,소득도적실험결과표명,유전산법가이재비교소적측시시량집하득도비교고적고장복개솔,시일개유효적측시생산산법.
