西安电子科技大学学报(自然科学版)
西安電子科技大學學報(自然科學版)
서안전자과기대학학보(자연과학판)
JOURNAL OF XIDIAN UNIVERSITY
2009年
1期
38-42
,共5页
测试访问机制%测试调度%测试用时%0-1规划
測試訪問機製%測試調度%測試用時%0-1規劃
측시방문궤제%측시조도%측시용시%0-1규화
由于现有TAM(Test Access Mechanism)结构中,被测IP(Intellectual Property)核都是固定地连接在某些TAM总线上,经常会导致测试资源浪费,故提出了可切换式TAM结构.某些IP核通过切换电路挂接在多组TAM上,可以使用多组TAM来完成对一个IP核的测试,减少了空闲时间,缩短了测试用时.按特定的排序规则,采用0-1规划先给每个IP核分配一组TAM,再采用一种启发性搜索算法,挑选合适的IP核使用多组TAM测试.对ITC2002基准电路的实验结果表明,该方法的测试用时较小.
由于現有TAM(Test Access Mechanism)結構中,被測IP(Intellectual Property)覈都是固定地連接在某些TAM總線上,經常會導緻測試資源浪費,故提齣瞭可切換式TAM結構.某些IP覈通過切換電路掛接在多組TAM上,可以使用多組TAM來完成對一箇IP覈的測試,減少瞭空閒時間,縮短瞭測試用時.按特定的排序規則,採用0-1規劃先給每箇IP覈分配一組TAM,再採用一種啟髮性搜索算法,挑選閤適的IP覈使用多組TAM測試.對ITC2002基準電路的實驗結果錶明,該方法的測試用時較小.
유우현유TAM(Test Access Mechanism)결구중,피측IP(Intellectual Property)핵도시고정지련접재모사TAM총선상,경상회도치측시자원낭비,고제출료가절환식TAM결구.모사IP핵통과절환전로괘접재다조TAM상,가이사용다조TAM래완성대일개IP핵적측시,감소료공한시간,축단료측시용시.안특정적배서규칙,채용0-1규화선급매개IP핵분배일조TAM,재채용일충계발성수색산법,도선합괄적IP핵사용다조TAM측시.대ITC2002기준전로적실험결과표명,해방법적측시용시교소.
