基于过采样技术提高SOC 单片机片内A/D分辨率的研究与实现
기우과채양기술제고SOC 단편궤편내A/D분변솔적연구여실현
Resolution Improvement of ADC in the MCU by Using the Oversampling and Mean Value Technology
  • 万方数据
    安阳师范学院学报 안양사범학원학보
    JOURNAL OF ANYANG TEACHERS COLLEGE
    2007年 2期 52-53 ,共2页

    李勇%牛文学

    리용%우문학

    过采样%模数转换 C8051F040 過採樣%模數轉換 C8051F040
    과채양%모수전환 C8051F040
    叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/D分辨率的基本原理及实现方法.给出了一个实现示例,将C8051F040片内12 位分辨率ADC提高到16 位分辨率.
    서술료기우과채양기술,사용연건방법제고단편궤편내A/D분변솔적기본원리급실현방법.급출료일개실현시례,장C8051F040편내12 위분변솔ADC제고도16 위분변솔.
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