核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2007年
5期
958-961
,共4页
郭伟%赖万昌%郭生良%程峰
郭偉%賴萬昌%郭生良%程峰
곽위%뢰만창%곽생량%정봉
X射线荧光%纸张%质量厚度%散射射线
X射線熒光%紙張%質量厚度%散射射線
X사선형광%지장%질량후도%산사사선
本文的目的是研究XRF法在纸张厚度测量上的应用.采用X射线荧光吸收法和源初级射线散射法分别对一批纸张样品质量厚度进行测量,并对测量结果进行对比,作出有益的讨论.测量是采用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射线荧光分析仪,探测器选用Si-PIN电致冷半导体探测器,同位素源采用双激发源(238Pu).实验表明:X射线荧光吸收法在纸张厚度测量上的准确度要比源初级射线散射法好,采用源初级射线散射法对于纸张厚度的测量也是可行的.
本文的目的是研究XRF法在紙張厚度測量上的應用.採用X射線熒光吸收法和源初級射線散射法分彆對一批紙張樣品質量厚度進行測量,併對測量結果進行對比,作齣有益的討論.測量是採用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射線熒光分析儀,探測器選用Si-PIN電緻冷半導體探測器,同位素源採用雙激髮源(238Pu).實驗錶明:X射線熒光吸收法在紙張厚度測量上的準確度要比源初級射線散射法好,採用源初級射線散射法對于紙張厚度的測量也是可行的.
본문적목적시연구XRF법재지장후도측량상적응용.채용X사선형광흡수법화원초급사선산사법분별대일비지장양품질량후도진행측량,병대측량결과진행대비,작출유익적토론.측량시채용성도미자과기유한공사적IED-2000P형수제식다원소X사선형광분석의,탐측기선용Si-PIN전치랭반도체탐측기,동위소원채용쌍격발원(238Pu).실험표명:X사선형광흡수법재지장후도측량상적준학도요비원초급사선산사법호,채용원초급사선산사법대우지장후도적측량야시가행적.
