微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2006年
4期
526-528
,共3页
X射线荧光光谱法%厚度测试%金属外壳%电镀%化学镀
X射線熒光光譜法%厚度測試%金屬外殼%電鍍%化學鍍
X사선형광광보법%후도측시%금속외각%전도%화학도
介绍了在外壳检验中,应用X射线荧光光谱法(XRF),对外壳的镀涂层厚度进行测试;探讨了金属外壳镀镍涂层厚度的测试方法;论述了应用X射线荧光光谱法正确测量外壳镀层的方法.
介紹瞭在外殼檢驗中,應用X射線熒光光譜法(XRF),對外殼的鍍塗層厚度進行測試;探討瞭金屬外殼鍍鎳塗層厚度的測試方法;論述瞭應用X射線熒光光譜法正確測量外殼鍍層的方法.
개소료재외각검험중,응용X사선형광광보법(XRF),대외각적도도층후도진행측시;탐토료금속외각도얼도층후도적측시방법;논술료응용X사선형광광보법정학측량외각도층적방법.
