传感器世界
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전감기세계
SENSOR WORLD
2006年
2期
25-28
,共4页
薄膜磁阻元件%InSb-In%灵敏度%检测%均匀磁场%磁感应强度
薄膜磁阻元件%InSb-In%靈敏度%檢測%均勻磁場%磁感應彊度
박막자조원건%InSb-In%령민도%검측%균균자장%자감응강도
本文设计了一种检测方法,它提拱精确可控制、且在一定的条件下磁感应强度的大小是稳定的磁场,同时设计了一种低噪声的放大电路对磁阻元件的输出进行测量.利用这个装置,可以精确地测量薄膜式InSb-In磁阻元件的灵敏度.本文检测并讨论了磁阻式Insb-In磁阻元件在一定的磁偏置的条件下,外加磁感应强度B与磁阻元件的电阻值的变化率间的关系,从而提出了一种精确、便捷的薄膜型InSb-In磁阻元件的测量方法.
本文設計瞭一種檢測方法,它提拱精確可控製、且在一定的條件下磁感應彊度的大小是穩定的磁場,同時設計瞭一種低譟聲的放大電路對磁阻元件的輸齣進行測量.利用這箇裝置,可以精確地測量薄膜式InSb-In磁阻元件的靈敏度.本文檢測併討論瞭磁阻式Insb-In磁阻元件在一定的磁偏置的條件下,外加磁感應彊度B與磁阻元件的電阻值的變化率間的關繫,從而提齣瞭一種精確、便捷的薄膜型InSb-In磁阻元件的測量方法.
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