无铅电子元器件的锡须风险评估与对策分析
무연전자원기건적석수풍험평고여대책분석
Tin Whisker Risk Assessment and Strategies Analysis of Lead-free Electronic Components
  • 万方数据
    电子产品可靠性与环境试验 전자산품가고성여배경시험
    ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
    2011年 4期 11-16 ,共6页

    聂国健%郑敏贵%周军连

    섭국건%정민귀%주군련

    无铅%锡须%风险%对策 無鉛%錫鬚%風險%對策
    무연%석수%풍험%대책
    针对无铅器件的锡须问题,重点分析锡须的形成机理、诱发因素以及使用风险,探讨抑制锡须生长的有效措施和风险规避对策,为无铅电子元器件在军工、航空航天领域的高可靠使用提供借鉴依据和指导.
    침대무연기건적석수문제,중점분석석수적형성궤리、유발인소이급사용풍험,탐토억제석수생장적유효조시화풍험규피대책,위무연전자원기건재군공、항공항천영역적고가고사용제공차감의거화지도.
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