核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2009年
6期
1331-1333,1352
,共4页
张雄%梁昊%虞孝麒%周永钊
張雄%樑昊%虞孝麒%週永釗
장웅%량호%우효기%주영쇠
BESⅢ%Muon电子学%VME%控制扇出%FPGA%固件%优化
BESⅢ%Muon電子學%VME%控製扇齣%FPGA%固件%優化
BESⅢ%Muon전자학%VME%공제선출%FPGA%고건%우화
BESⅢ%Muon electronics%VME%control/fan-out%FPGA%firmware%optimization
主要阐述BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计,主要内容包括对VME控制扇出插件控制芯片FPGA的固件进行优化,并且设计了相关实验来对优化方案进行测试.
主要闡述BESⅢ Muon電子學VME控製扇齣插件的優化設計,主要內容包括對VME控製扇齣插件控製芯片FPGA的固件進行優化,併且設計瞭相關實驗來對優化方案進行測試.
주요천술BESⅢ Muon전자학VME공제선출삽건적우화설계,주요내용포괄대VME공제선출삽건공제심편FPGA적고건진행우화,병차설계료상관실험래대우화방안진행측시.
The optimization design of VME control/fan-out module in BESⅢ Muon electronics is de-scribed. It concerns about the optimization of the firmware in FPGA, which is the controlling chip of VME control/fan-out module. Test experiments are designed and carried out in the paper to verify the optimization of this module.
