电子元件与材料
電子元件與材料
전자원건여재료
ELECTRONIC COMPONENTS & MATERIALS
2011年
1期
72-74
,共3页
可焊性%电子元件引线%金属氧化物%击穿电压
可銲性%電子元件引線%金屬氧化物%擊穿電壓
가한성%전자원건인선%금속양화물%격천전압
针对传统方法检测电子元件引线可焊性的缺点,提出了一种干法测量方法.电子元件引线镀层表面的金属氧化物是影响可焊性的主要因素,金属氧化物具有介于绝缘体和半导体之间的物理特性,它的击穿电压和氧化程度成正相关的关系.实验证明:击穿电压低于3V时,焊接性能很好,随着击穿电压升高,焊接性能恶化,超过40V,完全丧失可焊性.因此可以通过测量元件引线金属氧化物的击穿电压,判断其氧化程度,进而对元件引线的可焊性进行量化评佑.同时,指出了干法测量的关键问题,给出了一种测量元件引线击穿电压的实现方案.
針對傳統方法檢測電子元件引線可銲性的缺點,提齣瞭一種榦法測量方法.電子元件引線鍍層錶麵的金屬氧化物是影響可銲性的主要因素,金屬氧化物具有介于絕緣體和半導體之間的物理特性,它的擊穿電壓和氧化程度成正相關的關繫.實驗證明:擊穿電壓低于3V時,銲接性能很好,隨著擊穿電壓升高,銲接性能噁化,超過40V,完全喪失可銲性.因此可以通過測量元件引線金屬氧化物的擊穿電壓,判斷其氧化程度,進而對元件引線的可銲性進行量化評祐.同時,指齣瞭榦法測量的關鍵問題,給齣瞭一種測量元件引線擊穿電壓的實現方案.
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