信息与电子工程
信息與電子工程
신식여전자공정
INFORMATION AND ELECTRONIC ENGINEERING
2010年
1期
84-86,95
,共4页
反熔丝FPGA%γ剂量率%辐照试验%抗辐射加固
反鎔絲FPGA%γ劑量率%輻照試驗%抗輻射加固
반용사FPGA%γ제량솔%복조시험%항복사가고
FPGA系统电路进行抗γ剂量率器件选择是非常困难的.针对FPGA器件抗γ剂量率性能优选,试验研究了3种反熔丝FPGA器件的γ剂量率辐照效应规律.全部样品均出现了低阈值γ剂量率扰动效应,但均未产生高γ剂量率闭锁效应.FPGA器件低阈值γ剂量率失效主要是瞬时光电流扰动引起了时序逻辑功能的失效,而其模块海间的反熔丝开关电阻却对产生闭锁效应的大的辐射浪涌电流提供了保护.实验结果表明,系统电路设计加固是其实现抗γ剂量率最有效的方法.
FPGA繫統電路進行抗γ劑量率器件選擇是非常睏難的.針對FPGA器件抗γ劑量率性能優選,試驗研究瞭3種反鎔絲FPGA器件的γ劑量率輻照效應規律.全部樣品均齣現瞭低閾值γ劑量率擾動效應,但均未產生高γ劑量率閉鎖效應.FPGA器件低閾值γ劑量率失效主要是瞬時光電流擾動引起瞭時序邏輯功能的失效,而其模塊海間的反鎔絲開關電阻卻對產生閉鎖效應的大的輻射浪湧電流提供瞭保護.實驗結果錶明,繫統電路設計加固是其實現抗γ劑量率最有效的方法.
FPGA계통전로진행항γ제량솔기건선택시비상곤난적.침대FPGA기건항γ제량솔성능우선,시험연구료3충반용사FPGA기건적γ제량솔복조효응규률.전부양품균출현료저역치γ제량솔우동효응,단균미산생고γ제량솔폐쇄효응.FPGA기건저역치γ제량솔실효주요시순시광전류우동인기료시서라집공능적실효,이기모괴해간적반용사개관전조각대산생폐쇄효응적대적복사랑용전류제공료보호.실험결과표명,계통전로설계가고시기실현항γ제량솔최유효적방법.
