光谱学与光谱分析
光譜學與光譜分析
광보학여광보분석
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS
2011年
5期
1178-1180
,共3页
董丽芳%吕英辉%陈俊英%范伟丽%嵇亚飞
董麗芳%呂英輝%陳俊英%範偉麗%嵇亞飛
동려방%려영휘%진준영%범위려%혜아비
狭缝微等离子体%谱线宽度%谱线频移
狹縫微等離子體%譜線寬度%譜線頻移
협봉미등리자체%보선관도%보선빈이
在狭缝微等离子体中,研究了Ar Ⅰ(2P2→1S5)光谱线的展宽和频移随放电参数的变化.为了测量谱线频移,采用低气压(10 Pa左右)氩气放电发射的Ar Ⅰ光谱线作为参考线.实验在氩气含量为99.92%的氩气/空气放电中,测量了气压从1×104Pa增大到6×104 Pa时Ar Ⅰ谱线的频移和展宽.结果表明随着气压的升高,Ar Ⅰ谱线的展宽和频移均线性增大,说明电子密度随着气压的升高而增大.实验还研究了放电气隙间距为100及300μm时,Ar Ⅰ发射谱线的频移及展宽的变化,结果发现随着放电气隙间距的增加,谱线的频移及展宽均增加,表明电子密度随着放电气隙间距的增大而升高.
在狹縫微等離子體中,研究瞭Ar Ⅰ(2P2→1S5)光譜線的展寬和頻移隨放電參數的變化.為瞭測量譜線頻移,採用低氣壓(10 Pa左右)氬氣放電髮射的Ar Ⅰ光譜線作為參攷線.實驗在氬氣含量為99.92%的氬氣/空氣放電中,測量瞭氣壓從1×104Pa增大到6×104 Pa時Ar Ⅰ譜線的頻移和展寬.結果錶明隨著氣壓的升高,Ar Ⅰ譜線的展寬和頻移均線性增大,說明電子密度隨著氣壓的升高而增大.實驗還研究瞭放電氣隙間距為100及300μm時,Ar Ⅰ髮射譜線的頻移及展寬的變化,結果髮現隨著放電氣隙間距的增加,譜線的頻移及展寬均增加,錶明電子密度隨著放電氣隙間距的增大而升高.
재협봉미등리자체중,연구료Ar Ⅰ(2P2→1S5)광보선적전관화빈이수방전삼수적변화.위료측량보선빈이,채용저기압(10 Pa좌우)아기방전발사적Ar Ⅰ광보선작위삼고선.실험재아기함량위99.92%적아기/공기방전중,측량료기압종1×104Pa증대도6×104 Pa시Ar Ⅰ보선적빈이화전관.결과표명수착기압적승고,Ar Ⅰ보선적전관화빈이균선성증대,설명전자밀도수착기압적승고이증대.실험환연구료방전기극간거위100급300μm시,Ar Ⅰ발사보선적빈이급전관적변화,결과발현수착방전기극간거적증가,보선적빈이급전관균증가,표명전자밀도수착방전기극간거적증대이승고.
