基于IEEE 1149.7的新一代测试接口实现与应用
기우IEEE 1149.7적신일대측시접구실현여응용
Implementation and application of a next-generation test access port based on IEEE 1149.7
  • 万方数据
    信息技术 신식기술
    INFORMATION TECHNOLOGY
    2010年 8期 164-166,169 ,共4页

    徐志磊%郭筝

    서지뢰%곽쟁

    CJTAG接口%IEEE STD 1149.7%JTAG接口%IEEE STD 1149.1 CJTAG接口%IEEE STD 1149.7%JTAG接口%IEEE STD 1149.1
    CJTAG접구%IEEE STD 1149.7%JTAG접구%IEEE STD 1149.1
    随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD 1149. 1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要. CJTAG基于IEEE STD1149. 7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求.CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149. 1的软件和硬件的兼容性.
    수착심편집성도적불단증가화대저공모설계적중시,원초개발적JTAG(IEEE STD 1149. 1)면대신적도전,불능만족당금설계적수요. CJTAG기우IEEE STD1149. 7표준화전통적JTAG적변계소묘원리래제공일개경가강대적측시화조시적표준,래체도현재계통적요구.CJTAG용경소적관각래제공경다적공능,이동시보증료대IEEE1149. 1적연건화경건적겸용성.
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