电流拥挤效应对GaN基发光二极管可靠性的影响
전류옹제효응대GaN기발광이겁관가고성적영향
Effect of Current Crowding on the Reliability of GaN-based LEDs
  • 万方数据
    激光与红外 격광여홍외
    LASER & INFRARED
    2006年 6期 491-494,503 ,共5页

    艾伟伟%郭霞%刘斌%董立闽%刘莹%宋颖娉%沈光地

    애위위%곽하%류빈%동립민%류형%송영빙%침광지

    GaN%发光二极管%可靠性%电流拥挤 GaN%髮光二極管%可靠性%電流擁擠
    GaN%발광이겁관%가고성%전류옹제
    文中报道了绝缘蓝宝石衬底上的GaN基发光二极管(LEDs)中,由于横向电阻的存在造成了靠近n型电极台面边缘局部区域电流拥挤,为此从焦耳热和金属电迁移两方面研究了电流拥挤效应对器件可靠性的影响,加速寿命实验结果表明:电流均匀扩展可以使可靠性得到有效改善.
    문중보도료절연람보석츤저상적GaN기발광이겁관(LEDs)중,유우횡향전조적존재조성료고근n형전겁태면변연국부구역전류옹제,위차종초이열화금속전천이량방면연구료전류옹제효응대기건가고성적영향,가속수명실험결과표명:전류균균확전가이사가고성득도유효개선.
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