半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2005年
3期
261-263
,共3页
王军%杨会玲%刘亚侠%何昕%郝志航
王軍%楊會玲%劉亞俠%何昕%郝誌航
왕군%양회령%류아협%하흔%학지항
不均匀性%校正%CCD拼接
不均勻性%校正%CCD拼接
불균균성%교정%CCD병접
CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素.在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法.大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度.该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义.
CCD圖像傳感器不均勻特性是影響光電測量設備精度的一箇重要因素.在分析瞭單片CCD圖像傳感器不均勻特性基礎上,提齣瞭多CCD拼接相機繫統中不均勻特性的校正方法.大量實驗結果錶明,利用該校正方法不僅保持原圖像的目標,而且簡單快速,具有通用性,能夠顯著提高繫統測量精度.該方法可行且對其他光電測量設備有參攷意義.
CCD도상전감기불균균특성시영향광전측량설비정도적일개중요인소.재분석료단편CCD도상전감기불균균특성기출상,제출료다CCD병접상궤계통중불균균특성적교정방법.대량실험결과표명,이용해교정방법불부보지원도상적목표,이차간단쾌속,구유통용성,능구현저제고계통측량정도.해방법가행차대기타광전측량설비유삼고의의.
