集成电路并行测试适配器设计技术
집성전로병행측시괄배기설계기술
Designing Technology of the Simultaneous Testing Adapter for Integrated Circuits
  • 万方数据
    微处理机 미처리궤
    MICROPROCESSORS
    2007年 6期 13-14 ,共2页

    侯政嘉%刘炜%石志刚%吉国凡

    후정가%류위%석지강%길국범

    并行测试适配器%多管芯%PCB板设计 併行測試適配器%多管芯%PCB闆設計
    병행측시괄배기%다관심%PCB판설계
    重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术.通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题.
    중점연구집성전로병행측시괄배기적설계기술.통과이용포국포선、조항필배、분할전원화지적평면등항기술해결료다관심지간적상호격리、신호동보등문제.
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