半导体学报
半導體學報
반도체학보
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
2007年
z1期
583-587
,共5页
彩色CMOS图像传感器%中子辐照%γ射线辐照%输出特性%辐照损伤
綵色CMOS圖像傳感器%中子輻照%γ射線輻照%輸齣特性%輻照損傷
채색CMOS도상전감기%중자복조%γ사선복조%수출특성%복조손상
对一种彩色互补金属氧化物半导体(CM0S)图像传感器芯片进行了反应堆中子的辐照实验研究,利用图像分析软件分析了辐照前后芯片的暗输出图像的平均暗输出、暗输出不均匀性和动态范围等参数;与γ射线辐照很不相同,中子辐照器件的暗输出图像上出现许多大而密的斑点和条纹,图像上有很多白点和白点串;经过长时间室温退火后的图像质量没有明显改善.文章初步探讨了CMOS图像传感器的辐照损伤机理.
對一種綵色互補金屬氧化物半導體(CM0S)圖像傳感器芯片進行瞭反應堆中子的輻照實驗研究,利用圖像分析軟件分析瞭輻照前後芯片的暗輸齣圖像的平均暗輸齣、暗輸齣不均勻性和動態範圍等參數;與γ射線輻照很不相同,中子輻照器件的暗輸齣圖像上齣現許多大而密的斑點和條紋,圖像上有很多白點和白點串;經過長時間室溫退火後的圖像質量沒有明顯改善.文章初步探討瞭CMOS圖像傳感器的輻照損傷機理.
대일충채색호보금속양화물반도체(CM0S)도상전감기심편진행료반응퇴중자적복조실험연구,이용도상분석연건분석료복조전후심편적암수출도상적평균암수출、암수출불균균성화동태범위등삼수;여γ사선복조흔불상동,중자복조기건적암수출도상상출현허다대이밀적반점화조문,도상상유흔다백점화백점천;경과장시간실온퇴화후적도상질량몰유명현개선.문장초보탐토료CMOS도상전감기적복조손상궤리.
