一种实时检测芯片内部温度的电路实现
일충실시검측심편내부온도적전로실현
The Circuit Realization of the Real Time Examination of the Temperature Inside the Chip
  • 万方数据
    电子器件 전자기건
    JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
    2003年 3期 325-328,268 ,共5页

    孙方%宋慧滨%吴建辉

    손방%송혜빈%오건휘

    Verster方法%电流镜%温度测量 Verster方法%電流鏡%溫度測量
    Verster방법%전류경%온도측량
    传统的基于Verster原理检测芯片内部温度的电路有着误差较大、结构相对复杂的缺点.在传统电路基础上提出了一种采用电流镜法的实现电路,此种电路能够避免由于温度对器件的影响而造成的误差,且电路结构简单.对此电路及性能指标进行了模拟仿真,结果表明了此电路灵敏度高、误差小.
    전통적기우Verster원리검측심편내부온도적전로유착오차교대、결구상대복잡적결점.재전통전로기출상제출료일충채용전류경법적실현전로,차충전로능구피면유우온도대기건적영향이조성적오차,차전로결구간단.대차전로급성능지표진행료모의방진,결과표명료차전로령민도고、오차소.
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