稀土
稀土
희토
CHINESE RARE EARTHS
2004年
5期
64-67
,共4页
罗广圣%黄军平%徐鹏%唐少龙%蔡宏灵%徐金%吴小山
囉廣聖%黃軍平%徐鵬%唐少龍%蔡宏靈%徐金%吳小山
라엄골%황군평%서붕%당소룡%채굉령%서금%오소산
磁熵变%Rietveld方法%晶体结构%退火%磁卡效应
磁熵變%Rietveld方法%晶體結構%退火%磁卡效應
자적변%Rietveld방법%정체결구%퇴화%자잡효응
用非自耗电弧炉熔炼了Gd5+xSi2Ge2系列样品.用X射线粉末衍射(XRD)和Rietveld方法研究了Gd5+xSi2Ge2系列样品的晶体结构.用自制的仪器测量了样品的居里温度,用振动样品磁强计研究了样品的磁卡效应.对样品的晶体结构分析结果表明:Gd的含量x的变化对Gd5Si2Ge2化合物的晶体结构有较大的影响,当x>0时,样品中含有Gd5(Si,Ge)4和Gd5(Si,Ge)3两个相,并且随着x的增加Gd5(Si,Ge)4相会减少,Gd5(Si,Ge)3相会增加;当x<0时,样品会形成Gd5(Si,Ge)4和Gd(Si,Ge)两相,并且随着x的减少Gd5(Si,Ge)4相会减少,Gd(Si,Ge)相会增多.对样品的磁性能分析结果表明:Gd的含量x>0和x<0时都会降低样品的磁卡效应,样品的居里温度会随着x的增加而增加.
用非自耗電弧爐鎔煉瞭Gd5+xSi2Ge2繫列樣品.用X射線粉末衍射(XRD)和Rietveld方法研究瞭Gd5+xSi2Ge2繫列樣品的晶體結構.用自製的儀器測量瞭樣品的居裏溫度,用振動樣品磁彊計研究瞭樣品的磁卡效應.對樣品的晶體結構分析結果錶明:Gd的含量x的變化對Gd5Si2Ge2化閤物的晶體結構有較大的影響,噹x>0時,樣品中含有Gd5(Si,Ge)4和Gd5(Si,Ge)3兩箇相,併且隨著x的增加Gd5(Si,Ge)4相會減少,Gd5(Si,Ge)3相會增加;噹x<0時,樣品會形成Gd5(Si,Ge)4和Gd(Si,Ge)兩相,併且隨著x的減少Gd5(Si,Ge)4相會減少,Gd(Si,Ge)相會增多.對樣品的磁性能分析結果錶明:Gd的含量x>0和x<0時都會降低樣品的磁卡效應,樣品的居裏溫度會隨著x的增加而增加.
용비자모전호로용련료Gd5+xSi2Ge2계렬양품.용X사선분말연사(XRD)화Rietveld방법연구료Gd5+xSi2Ge2계렬양품적정체결구.용자제적의기측량료양품적거리온도,용진동양품자강계연구료양품적자잡효응.대양품적정체결구분석결과표명:Gd적함량x적변화대Gd5Si2Ge2화합물적정체결구유교대적영향,당x>0시,양품중함유Gd5(Si,Ge)4화Gd5(Si,Ge)3량개상,병차수착x적증가Gd5(Si,Ge)4상회감소,Gd5(Si,Ge)3상회증가;당x<0시,양품회형성Gd5(Si,Ge)4화Gd(Si,Ge)량상,병차수착x적감소Gd5(Si,Ge)4상회감소,Gd(Si,Ge)상회증다.대양품적자성능분석결과표명:Gd적함량x>0화x<0시도회강저양품적자잡효응,양품적거리온도회수착x적증가이증가.
