核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2011年
4期
428-431,435
,共5页
孟猛%唐民%于庆奎%李鹏伟%朱恒静
孟猛%唐民%于慶奎%李鵬偉%硃恆靜
맹맹%당민%우경규%리붕위%주항정
CCD信号处理器%D/A转换器%商用器件%单粒子效应%单粒子锁定
CCD信號處理器%D/A轉換器%商用器件%單粒子效應%單粒子鎖定
CCD신호처리기%D/A전환기%상용기건%단입자효응%단입자쇄정
采用中科院近代物理研究所回旋加速器产生的重离子(Kr),对商用的CCD外围器件进行单粒子效应试验研究,包括CCD信号处理器AD9945、高速视频D/A转换器ADC7123以及CCD时钟驱动器CXD3400等.试验得到AD9945、ADV7123在离子线性能量转移(Linear Energy Transfes,LEF)为30MeV?cm2/mg时,均发生单粒子锁定(single Event Latch-up,SEL)现象,锁定截面分别为2.97×10-5cm2/器件和2.25×10-4cm2/器件;器件发生SEL时工作电流可达正常工作电流数倍,同时出现功能丧失,需断电重启才能恢复.试验发现CXD3400在离子LET为38 MeV?cm2/mg、辐照通量达107cm-2 时,未发生SEL现象.
採用中科院近代物理研究所迴鏇加速器產生的重離子(Kr),對商用的CCD外圍器件進行單粒子效應試驗研究,包括CCD信號處理器AD9945、高速視頻D/A轉換器ADC7123以及CCD時鐘驅動器CXD3400等.試驗得到AD9945、ADV7123在離子線性能量轉移(Linear Energy Transfes,LEF)為30MeV?cm2/mg時,均髮生單粒子鎖定(single Event Latch-up,SEL)現象,鎖定截麵分彆為2.97×10-5cm2/器件和2.25×10-4cm2/器件;器件髮生SEL時工作電流可達正常工作電流數倍,同時齣現功能喪失,需斷電重啟纔能恢複.試驗髮現CXD3400在離子LET為38 MeV?cm2/mg、輻照通量達107cm-2 時,未髮生SEL現象.
채용중과원근대물리연구소회선가속기산생적중리자(Kr),대상용적CCD외위기건진행단입자효응시험연구,포괄CCD신호처리기AD9945、고속시빈D/A전환기ADC7123이급CCD시종구동기CXD3400등.시험득도AD9945、ADV7123재리자선성능량전이(Linear Energy Transfes,LEF)위30MeV?cm2/mg시,균발생단입자쇄정(single Event Latch-up,SEL)현상,쇄정절면분별위2.97×10-5cm2/기건화2.25×10-4cm2/기건;기건발생SEL시공작전류가체정상공작전류수배,동시출현공능상실,수단전중계재능회복.시험발현CXD3400재리자LET위38 MeV?cm2/mg、복조통량체107cm-2 시,미발생SEL현상.
