EPROM脉冲总剂量损伤效应实验研究
EPROM맥충총제량손상효응실험연구
Pulsed Total Dose Damage Effect Experimental Study on EPROM
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2011年 7期 752-756 ,共5页

    罗尹虹%姚志斌%张凤祁%郭红霞%张科营%王园明%何宝平

    라윤홍%요지빈%장봉기%곽홍하%장과영%왕완명%하보평

    EPROM%阈值电压%脉冲总剂量 EPROM%閾值電壓%脈遲總劑量
    EPROM%역치전압%맥충총제량
    针对目前国内存储器辐照效应研究大多集中于功能测试,所测参数少的现状,提出了浮栅型存储器阈值电压的测试方法,并对浮栅型存储器EPROM初步开展了脉冲总剂量对器件阈值电压影响的效应研究,分析了损伤机理.研究结果表明,脉冲总剂量引起存储单元阈值电压向负方向发生明显漂移,在不加电和静态加电两种情况下,存储单元阈值电压漂移基本一致.
    침대목전국내존저기복조효응연구대다집중우공능측시,소측삼수소적현상,제출료부책형존저기역치전압적측시방법,병대부책형존저기EPROM초보개전료맥충총제량대기건역치전압영향적효응연구,분석료손상궤리.연구결과표명,맥충총제량인기존저단원역치전압향부방향발생명현표이,재불가전화정태가전량충정황하,존저단원역치전압표이기본일치.
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